ロット品質の平均と標準偏差を同時に保証する計量規準型1回抜取検査の設計

DOI 被引用文献3件

書誌事項

タイトル別名
  • Design of Single Sampling Plans by Variables Indexed by Mean and Standard Deviation in Lot Quality

抄録

品質特性が正規分布に従うとき, 標準偏差既知・未知のそれぞれの場合について計量規準型1回抜取検査がJISで定められている.ところで, 標準偏差既知の場合のJIS Z 9003では, ロット品質の平均値を保証する場合とロットの不良率を保証する場合の2通りの検査方式が規定されている.これに対し, 標準偏差未知の場合のJIS Z 9004では, 上限または下限規格値だけを与え, ロットの不良率を保証する検査方式が規定されているだけで, ロット品質の平均値を保証する検査方式については規定されていない.本研究では, 標準偏差未知の場合について, ロット品質の平均値を保証する計量規準型1回抜取検査について考究する.ただし, 標準偏差が未知であることから, ロット品質の平均値だけでなく, 標準偏差も同時に保証する必要がある.そこで, ロット品質を平均と標準偏差の両方で保証する新しい計量規準型1回抜取検査方式を提案し, その設計法を与える.

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001288101435904
  • NII論文ID
    110003936360
  • DOI
    10.11221/jimapre.45.1_30
  • ISSN
    24329983
    03864812
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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