招待講演 MOSFETを利用した室温での単一電子転送・検出とその応用--SOIを用いた素子作製と特性評価

• 西口 克彦

• 小野 行徳

• 藤原 聡

Bibliographic Information

Other Title

• ショウタイ コウエン MOSFET オ リヨウ シタ シツオン デ ノ タンイツ デンシ テンソウ ケンシュツ ト ソノ オウヨウ SOI オ モチイタ ソシ サクセイ ト トクセイ ヒョウカ

Journal

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 105 (551), 23-28, 2006-01-26

  東京 : 電子情報通信学会

Keywords

• 単一電子検出
• 室温動作
• single-electron transfer
• single-electron detection
• room-temperature operation

Details

• CRID: 1520009407845288320
• NII Article ID: 110004382134
• NII Article ID: 110004078849
• NII Book ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL BIB ID: 7815593
• NDL BIB ID: 7815462
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I7815593
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I7815462
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles