233 複数波長のシンクロトロン放射光による残留応力の深さ分布測定 : X 線侵入深さの検討

• 秋田,貢一

  武蔵工大

• 久保田,耕平

  都立大学

• 吉岡,靖夫

  武蔵工大

• 鈴木,裕士

  都立大院

収録刊行物

• 学術講演会講演論文集

  学術講演会講演論文集 51 249-250, 2002-05-22

  日本材料学会

詳細情報

• CRID: 1540572720359773568
• NII論文ID: 110004471558
• NII書誌ID: AA11881527
• Web Site: http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/10737531
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • NDL-Digital
  • CiNii Articles