19pYD-10 In-situ光電子分光によるSrRuO_3薄膜電子状態の膜厚依存性(領域5,領域8合同招待講演,領域5(光物性))

• 組頭 広志

  東大院工

• 豊田 大介

  東大院工

• 滝沢 優

  東大新領域

• 大久保 勇男

  東大院工

• 尾崎 正治

  東大院工

• 大西 剛

  東大物性研

• Lippmaa Mikk

  東大物性研

• 藤森 淳

  東大新領域

• 小野 寛太

  高工研

• 川崎 雅司

  東北大金研

• 鯉沼 秀臣

  物材機構

書誌事項

タイトル別名

• 19pYD-10 Thickness-dependent electronic structure of ultrathin SrRuO_3 films studied by in-situ photoemission spectroscopy

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 60.2.4 (0), 573-, 2005

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390282680980196608
• NII論文ID: 110004559128
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.60.2.4.0_573_3
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles