テスト生成における間接含意の効率的な生成方法  [in Japanese] Efficient generation method of indirect implication on ATPG  [in Japanese]

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Abstract

テストパタン自動生成システムにおいて,間接含意は,含意操作の対象を拡大し,テストパタン生成の探索範囲を狭める重要な技術である.一方,回路規模の増大に伴い,間接含意の生成量が増大し,問題となっている.そこで本論文では,間接含意を,非循環有向グラフを用いてモデル化し,より小さな間接含意集合の生成方法を提案する.またベンチマーク回路において,従来手法との比較評価を行う.

On ATPG, indirect implication is an important technich for reduced area of searching on generating test pattern. This is a big problem that increasing indirect list increases with increasing circuit. We proposed that an efficient genration method of indirect implication list for small size with DAG. Finally, Our method is evaluated on bench mark circuit.

Journal

  • IEICE technical report

    IEICE technical report 106(32), 19-23, 2006-05-05

    The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

References:  6

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    110004737643
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN10013323
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    ART
  • ISSN
    09135685
  • NDL Article ID
    7937806
  • NDL Source Classification
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL Call No.
    Z16-940
  • Data Source
    CJP  NDL  NII-ELS 
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