C-12-22 弱反転MOSFETを用いた品質管理・温度履歴モニタ回路(C-12. 集積回路C(アナログ), エレクトロニクス2)

• 上野 憲一

  北海道大学大学院情報科学研究科

• 廣瀬 哲也

  北海道大学大学院情報科学研究科

• 浅井 哲也

  北海道大学大学院情報科学研究科

• 雨宮 好仁

  北海道大学大学院情報科学研究科

書誌事項

タイトル別名

• C-12-22 Watch-dog Circuit for Quality Guarantee and Temperature History with Subthreshold Current

収録刊行物

• 電子情報通信学会総合大会講演論文集

  電子情報通信学会総合大会講演論文集 2005 (2), 85-, 2005-03-07

  一般社団法人電子情報通信学会

詳細情報

• CRID: 1570291227035563904
• NII論文ID: 110004740826
• NII書誌ID: AN10471452
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles