ばらつき因子の大域的な同定と統計的ワーストケースモデルの生成方法について

• 永久 克己

• 岡垣 健

• 谷沢 元昭

書誌事項

タイトル別名

• バラツキ インシ ノ タイイキテキ ナ ドウテイ ト トウケイテキ ワーストケース モデル ノ セイセイ ホウホウ ニ ツイテ

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 106 (257), 13-18, 2006-09-26

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• TEG
• 応答曲面法
• 統計的パラメータ抽出
• Variability
• Worst-Case Model
• RSM
• Statistical Parameter Extraction

詳細情報

• CRID: 1520009408902046720
• NII論文ID: 110004823556
• NII論文ID: 110004823958
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 8082494
• NDL書誌ID: 8082316
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/8082494
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8082494
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/8082316
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8082316
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles