広範囲な活性化エネルギーに適応可能なCMOS品質劣化モニタセンサLSI

• 上野 憲一

• 廣瀬 哲也

• 浅井 哲也

書誌事項

タイトル別名

• コウハンイ ナ カッセイカ エネルギー ニ テキオウ カノウ ナ CMOS ヒンシツ レッカ モニタセンサ LSI

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 106 (206), 31-36, 2006-08

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• サブスレッショルド領域
• 極低消費電力
• トランスリニア回路
• 温度履歴
• 品質保証
• Subthreshold region
• Ultralow-power
• Translinear
• Temperature histiry
• Quality guarantee

詳細情報

• CRID: 1520572358162103424
• NII論文ID: 110004824026
• NII論文ID: 110004823908
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 8047796
• NDL書誌ID: 8048137
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8047796
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8048137
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles