メモリコアに対する組込み自己修復を考慮したSoCのテスト・スケジューリング

• 福田 雄介

• 米田 友和

• 藤原 秀雄

Bibliographic Information

Other Title

• メモリコア ニ タイスル クミコミ ジコ シュウフク オ コウリョ シタ SoC ノ テスト スケジューリング

Journal

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 106 (390), 59-64, 2006-11-28

  東京 : 電子情報通信学会

Keywords

• システムオンチップ
• 消費電力
• System-on-Chip
• Built-In Self-Repair
• Power Constraints
• Test Scheduling

Details

• CRID: 1520572359444642432
• NII Article ID: 110005717338
• NII Article ID: 110005717965
• NII Book ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL BIB ID: 8572355
• NDL BIB ID: 8572199
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8572355
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8572199
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles
  • KAKEN