DAST結晶を用いた電気光学プローブによる極超低周波電界測定

• 都甲浩芳

  日本電信電話株式会社 NTTマイクロシステムインテグレーション研究所

• 横田 宏明

  第一化学薬品株式会社

• 泉 篤志

  第一化学薬品株式会社

• 黒澤 敏

  第一化学薬品株式会社

• 深作 昇

  第一化学薬品株式会社

• 内田 裕久

  第一化学薬品株式会社

• 小松 貴幸

  NTTアドバンステクノロジ株式会社

• 菅田 孝之

  イーラムダネット株式会社

• 清水 直文

  日本電信電話株式会社 NTTマイクロシステムインテグレーション研究所

• 永妻 忠夫

  日本電信電話株式会社 NTTマイクロシステムインテグレーション研究所

書誌事項

タイトル別名

• C-14-5 Measurement of Extremely Low Frequency (ELF) Electric Field Using Electro-Optic Probe Comprised of 4-dimethylamino-N-methyl-4-stilbazolium Tosylate (DAST) crystal

収録刊行物

• 2006年電子情報通信学会総合大会

  2006年電子情報通信学会総合大会 272-, 2006

  一般社団法人電子情報通信学会

詳細情報

• CRID: 1570291227301535232
• NII論文ID: 110006214673
• NII書誌ID: AN10471452
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles