D-15-10 先端研究施設での見学学習を支援するためのRFIDを用いた動的シナリオ生成・提示システムの開発(D-15.教育工学,一般講演)  [in Japanese] D-15-10 Development of Dynamically Arranged Scenario System with RFID Tags for Field Study Tour at an Advanced Research Institute  [in Japanese]

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Journal

  • Proceedings of the IEICE General Conference

    Proceedings of the IEICE General Conference 2006年_情報・システム(1), 162, 2006-03-08

    The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    110006216829
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN10471452
  • Text Lang
    JPN
  • Data Source
    NII-ELS 
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