不純物トラップメモリによる電荷の面内再分配抑制と高温保持力向上

• 砂村 潤

• 五十嵐 多恵子

• 森岡 あゆ香

書誌事項

タイトル別名

• フジュンブツ トラップ メモリ ニ ヨル デンカ ノ メンナイ サイブンパイ ヨクセイ ト コウオン ホジリョク コウジョウ
• Suppression of lateral charge redistribution using advanced impurity trap memory for improving high temperature retention
• 集積回路
• シュウセキ カイロ

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 107 (1), 83-88, 2007-04

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• SONOS
• トラップ
• 金属不純物
• 原子トラップ
• 電荷の面内再分配
• 高温保持
• traps
• metal impurities
• atomic-sized traps
• lateral charge redistribution
• high temperature retention

詳細情報

• CRID: 1520853832759282304
• NII論文ID: 110006272869
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 8724594
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8724594
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles