ストライプ型チャネルを持つ多結晶シリコン薄膜トランジスタの特性ばらつきの評価

• 秋山 浩司

• 渡邉 一徳

• 浅野 種正

書誌事項

タイトル別名

• ストライプガタ チャネル オ モツ タケッショウ シリコン ハクマク トランジスタ ノ トクセイ バラツキ ノ ヒョウカ
• Investigation on characteristic variation of polycrystalline-Si thin film transistor having stripe channels
• 有機エレクトロニクス
• ユウキ エレクトロニクス

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 108 (2), 23-26, 2008-04

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• 薄膜トランジスタ
• 横方向成長多結晶シリコン
• 特性ばらつき
• 結晶粒界
• 電位障壁
• thin film transistor
• laterally grown polycrystalline silicon
• characteristic variation
• grain boundary
• potential barrier

詳細情報

• CRID: 1520572357318015232
• NII論文ID: 110006792709
• NII論文ID: 110006793641
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 9489464
• NDL書誌ID: 9489149
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I9489464
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I9489149
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles