Impact of 180nm current controlled MCML for realizing stable circuit operations under threshold voltage fluctuations

• Masashi Kamiyanagi

• Yuto Norifusa

• Tetsuo Endoh

書誌事項

タイトル別名

• Electron devices
• Electron devices

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 108 (121), 233-238, 2008-07

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• Current Controlled-MCML
• MCML
• Vth Fluctuation
• Stability
• NMOS
• PMOS

詳細情報

• CRID: 1520290884003151744
• NII論文ID: 110006977638
• NII論文ID: 110006975852
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 9604705
• NDL書誌ID: 9605342
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I9604705
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I9605342
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles