B25 粘土鉱物のTEM-EDS分析におけるSDD検出器およびX線ポリキャピラリの利用(口頭発表,一般講演)

• 渡邉 克晃

  物質・材料研究機構

• 原 徹

  物質・材料研究機構

• 田中 啓一

  エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社

• 大崎 光明

  日本電子株式会社

• 布目 浩三

  日本電子株式会社

• 于 秀珍

  物質・材料研究機構

• 松井 良夫

  物質・材料研究機構

収録刊行物

• 粘土科学討論会講演要旨集

  粘土科学討論会講演要旨集 (52), 134-135, 2008-09-03

  日本粘土学会

詳細情報

• CRID: 1570854177555473664
• NII論文ID: 110007072488
• NII書誌ID: AN10545490
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles