21aWH-11 TiO_2(001)基板上に作製したVO_2薄膜における金属-絶縁体転移の膜厚依存性(V酸化物,高圧,領域8,強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など)
書誌事項
- タイトル別名
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- 21aWH-11 Thickness dependence of the metal-to-insulator transition for VO_2 thin films on TiO_2(001) substrates
収録刊行物
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- 日本物理学会講演概要集
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日本物理学会講演概要集 62.2.3 (0), 513-, 2007
一般社団法人 日本物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001206012381568
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- NII論文ID
- 110007141164
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- ISSN
- 21890803
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles