21aWH-11 TiO_2(001)基板上に作製したVO_2薄膜における金属-絶縁体転移の膜厚依存性(V酸化物,高圧,領域8,強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など)

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タイトル別名
  • 21aWH-11 Thickness dependence of the metal-to-insulator transition for VO_2 thin films on TiO_2(001) substrates

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001206012381568
  • NII論文ID
    110007141164
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.62.2.3.0_513_2
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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