25aYH-5 反射高速陽電子回折によるIn/Si(111)表面構造解析(25aYH 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))

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タイトル別名
  • 25aYH-5 Structure analysis of In/Si(111) surface studied by reflection high-energy positron diffraction

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001206009471488
  • NII論文ID
    110007179909
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.61.2.4.0_744_4
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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