25pTE-11 反射高速陽電子回折を用いたIn/Si(111)表面における金属-絶縁体転移の研究(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)

DOI

書誌事項

タイトル別名
  • 25pTE-11 Metal-insulator transition of In/Si(111) surface studied by reflection high-energy positron diffraction

収録刊行物

詳細情報

  • CRID
    1390001206020507776
  • NII論文ID
    110007194355
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.63.1.4.0_898_3
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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