短答式記述テストにおける自動採点--その採点ロジックと課題について

• 石岡 恒憲

Bibliographic Information

Other Title

• タントウシキ キジュツ テスト ニ オケル ジドウ サイテン ソノ サイテン ロジック ト カダイ ニ ツイテ
• Automated short-answer test scoring: the logic and the tasks
• 思考と言語
• シコウ ト ゲンゴ

Journal

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 109 (84), 7-11, 2009-06-18

  東京 : 電子情報通信学会

Keywords

• C-rater
• 再現率
• 精度
• アンサーキー
• answer-word recall
• precision
• answer-key

Details

• CRID: 1520290883887604096
• NII Article ID: 110007360549
• NII Book ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL BIB ID: 10274458
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/10274458
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I10274458
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles