フリップチップ実装構造における微小バンプ接続部の非破壊検査法の提案

• 佐藤 祐規

• 三浦 英生

Bibliographic Information

Other Title

• フリップチップ ジッソウ コウゾウ ニ オケル ビショウ バンプ セツゾクブ ノ ヒハカイ ケンサホウ ノ テイアン
• 次世代電子機器における先端実装技術と電磁波ノイズ低減技術論文特集
• ジ セダイ デンシ キキ ニ オケル センタン ジッソウ ギジュツ ト デンジハ ノイズ テイゲン ギジュツ ロンブン トクシュウ

Journal

• 電子情報通信学会論文誌. C, エレクトロニクス = The IEICE transactions on electronics. C / 電子情報通信学会 編

  電子情報通信学会論文誌. C, エレクトロニクス = The IEICE transactions on electronics. C / 電子情報通信学会 編 89 (11), 778-785, 2006-11

  東京 : 電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ

Keywords

• 熱変形
• 有限要素法解析
• レーザ顕微鏡
• 非破壊検査

Details

• CRID: 1520290884157972992
• NII Article ID: 110007379811
• NII Book ID: AA11412446
• ISSN: 13452827
• NDL BIB ID: 8563287
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8563287
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles