リングオシレータを用いた製造ばらつきの解析

• 賀谷 彰大

• 上口 光

• Hans Jurgen Mattausch

書誌事項

タイトル別名

• リングオシレータ オ モチイタ セイゾウバラツキ ノ カイセキ
• Analysis of process variations by using ring oscillator
• 非線形問題
• ヒセンケイ モンダイ

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 109 (200), 71-76, 2009-09

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• 製造ばらつき解析
• リングオシレータ
• 発振周波数
• ウェハ内ばらつき
• ダイ内ばらつき
• HiSIM
• Process variation analysis
• Ring oscillator
• oscillation frequency
• Within-wafer variation
• Within-die variation

詳細情報

• CRID: 1520009408841120256
• NII論文ID: 110007387525
• NII論文ID: 110007387408
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 10391262
• NDL書誌ID: 10391013
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I10391262
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I10391013
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles