テストのユニバーサルデザイン

• 藤芳 衛

Bibliographic Information

Other Title

• テスト ノ ユニバーサル デザイン
• Universal design of testing
• 小特集 学力評価の最前線
• ショウトクシュウ ガクリョク ヒョウカ ノ サイゼンセン

Abstract

コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌

Journal

• 電子情報通信学会誌 = The journal of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

  電子情報通信学会誌 = The journal of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers 92 (12), 1022-1026, 2009-12

  東京 : 電子情報通信学会

Keywords

• 試験
• ユニバーサルデザイン
• 障害

Details

• CRID: 1520572358672599168
• NII Article ID: 110007483240
• NII Book ID: AN1001339X
• ISSN: 09135693
• NDL BIB ID: 10513209
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I10513209
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles
  • KAKEN