27pYG-3 Bi(001)薄膜表面の原子間力顕微鏡/静電気力分光測定(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)

• 神森 康樹

  阪大院工

• 内藤 賀公

  阪大院工

• 影島 賢巳

  阪大院工

• 菅原 康弘

  阪大院工

書誌事項

タイトル別名

• 27pYG-3 Atomic Forcer Microscopy Measurement on Bi(001) Surface

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 64.2.4 (0), 839-, 2009

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390282680947408384
• NII論文ID: 110007499076
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.64.2.4.0_839_3
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles