招待講演 微細MOSデバイスにおけるランダムばらつき

• 竹内 潔

• 西田 彰男

• 平本 俊郎

書誌事項

タイトル別名

• ショウタイ コウエン ビサイ MOS デバイス ニ オケル ランダムバラツキ
• Random fluctuations in scaled MOS devices
• シリコン材料・デバイス
• シリコン ザイリョウ デバイス

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 109 (278), 67-71, 2009-11

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• ばらつき
• ランダムばらつき
• 不純物ばらつき
• MOSFET
• LSI
• Variability
• Random fluctuation
• Random dopant fluctuation

詳細情報

• CRID: 1520853833511099264
• NII論文ID: 110007504686
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 10479574
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I10479574
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles