回路構造を考慮した修正箇所候補抽出に基づく論理診断手法

• 塩木 講輔

• 渡辺 浩介

• 岡田 匠史

書誌事項

タイトル別名

• カイロ コウゾウ オ コウリョ シタ シュウセイ カショ コウホ チュウシュツ ニ モトズク ロンリ シンダン シュホウ
• An Error Diagnosis Technique Based on Error Locations Extracted from Subcircuit Using Circuit structure
• システムLSI設計技術(SLDM) Vol.2009-SLDM-142
• システム LSI セッケイ ギジュツ(SLDM) Vol.2009-SLDM-142

収録刊行物

• 情報処理学会研究報告

  情報処理学会研究報告 2009年度 (5), 1-6, 2010-02

  東京 : 情報処理学会

詳細情報

• CRID: 1520009409510948864
• NII論文ID: 110007995037
• NII書誌ID: AA12414720
• ISSN: 18840930
• NDL書誌ID: 025052183
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025052183
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM13(科学技術--科学技術一般--データ処理・計算機)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles