少品種高信頼セルを用いた高信頼回路設計手法と信頼性評価手法の提案

• 大賀 健司

• 姚 駿

• 中田 尚

Bibliographic Information

Other Title

• ショウ ヒンシュ コウシンライ セル オ モチイタ コウシンライ カイロ セッケイ シュホウ ト シンライセイ ヒョウカ シュホウ ノ テイアン
• Designing a Dependability Evaluation Method for Logic Circuits Using Highly Reliable Cells
• モバイルコンピューティングとユビキタス通信(MBL) Vol.2010-MBL-53
• モバイルコンピューティング ト ユビキタス ツウシン(MBL) Vol.2010-MBL-53

Journal

• 情報処理学会研究報告

  情報処理学会研究報告 2009年度 (6), 1-8, 2010-04

  東京 : 情報処理学会

Details

• CRID: 1520009409527972608
• NII Article ID: 110007995055
• NII Article ID: 110007993168
• NII Article ID: 110007995185
• NII Article ID: 110007993744
• NII Book ID: AA12414720
• ISSN: 21862583
• NDL BIB ID: 025098123
• NDL BIB ID: 025062020
• NDL BIB ID: 025101800
• NDL BIB ID: 025047663
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025098123
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025062020
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025101800
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025047663
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZM13(科学技術--科学技術一般--データ処理・計算機)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles
  • KAKEN