C-12-23 小面積ディジタルプロセスばらつきモニタの特性評価(ばらつき補償・次世代回路,C-12.集積回路,一般セッション)

• 程 在鉉

  東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻

• 飯塚 哲也

  東京大学大規模集積システム設計教育研究センター

• 名倉 徹

  東京大学大規模集積システム設計教育研究センター

• 池田 誠

  東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻 東京大学大規模集積システム設計教育研究センター

• 浅田 邦博

  東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻 東京大学大規模集積システム設計教育研究センター

書誌事項

タイトル別名

• C-12-23 Characterization of Reduced-area All Digital Process Variability Monitor

収録刊行物

• 電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集

  電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集 2010 (2), 84-, 2010-08-31

  一般社団法人電子情報通信学会

詳細情報

• CRID: 1571980076938093184
• NII論文ID: 110008107893
• NII書誌ID: AN10489017
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles