RC-010 組込み自己テストにおける救済可能テスト生成器(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ,査読付き論文)

• 志水, 昂

• 深澤, 祐樹

• 吉川, 祐樹

• 市原, 英行

• 井上, 智生

書誌事項

タイトル別名

• RC-010 A Repairable Test Generator in Built-in Self Test

収録刊行物

• 情報科学技術フォーラム講演論文集

  情報科学技術フォーラム講演論文集 9 (1), 109-114, 2010-08-20

  FIT(電子情報通信学会・情報処理学会)運営委員会

詳細情報

• CRID: 1050292572115539712
• NII論文ID: 110008145531
• NII書誌ID: AA1242354X
• Web Site: http://id.nii.ac.jp/1001/00149796/
• 本文言語コード: ja
• 資料種別: conference paper
• データソース種別:
  • IRDB
  • CiNii Articles