代用電荷法による正準スリット領域への数値等角写像 (科学技術計算アルゴリズムの数理的基盤と展開) Numerical Conformal Mappings onto Canonical Slit Domains by the Charge Simulation Method (Mathematical foundation and development of algorithms for scientific computing)

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著者

    • 天野 要 Amano Kaname
    • 愛媛大学大学院理工学研究科 Graduate School of Science and Engineering, Ehime University
    • 岡野 大 Okano Dai
    • 愛媛大学大学院理工学研究科 Graduate School of Science and Engineering, Ehime University

収録刊行物

  • 数理解析研究所講究録

    数理解析研究所講究録 1733, 160-179, 2011-03

    京都大学

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    110008434601
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00061013
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    特集
  • 雑誌種別
    大学紀要
  • ISSN
    18802818
  • NDL 記事登録ID
    11085087
  • NDL 雑誌分類
    ZM31(科学技術--数学)
  • NDL 請求記号
    Z43-1336
  • データ提供元
    NDL  NII-ELS  IR 
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