原子間力顕微鏡を用いたReRAMフィラメントの物性解析

• 依田 貴稔

• 木下 健太郎

• 岸田 悟

Bibliographic Information

Other Title

• ゲンシカンリョク ケンビキョウ オ モチイタ ReRAM フィラメント ノ ブッセイ カイセキ
• Physical analysis on ReRAM filaments using atomic force microscope
• 集積回路
• シュウセキ カイロ

Journal

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 111 (6), 99-104, 2011-04

  東京 : 電子情報通信学会

Keywords

• 抵抗変化メモリ
• 酸化ニッケル
• 原子間力顕微鏡
• 走査型電子顕微鏡
• 電子線照射
• ReRAM
• NiO
• AFM
• SEM
• electron irradiation

Details

• CRID: 1520572358552937856
• NII Article ID: 110008689402
• NII Book ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL BIB ID: 11069680
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I11069680
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles