26aTH-3 Bi_<1-x>Sb_xエッジ状態における準粒子散乱の解析(26aTH 表面界面電子物性(トポロジカル表面・スピン・ラシュバ効果),領域9(表面・界面,結晶成長))

• 中村 史一

  東大物性研:東大理

• 小宇佐 友香

  慶応理工

• Taskin Alexey A.

  阪大産研

• angelo Marie D'

  INSP Paris

• 武市 泰男

  東大物性研:東大理

• 中辻 寛

  東大物性研

• 小森 文夫

  東大物性研

• 柿崎 明人

  東大物性研

• 近藤 寛

  慶応理工

• 安藤 陽一

  阪大産研

• 松田 厳

  東大物性研

書誌事項

タイトル別名

• 26aTH-3 Quasiparticle scattering analyses of the edge states of the Bi_<1-x>Sb_x crystal

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 66.1.4 (0), 914-, 2011

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390282680951497344
• NII論文ID: 110008715559
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.66.1.4.0_914_1
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles