Evaluation of electrical property at SrTiO3 bicrystal interface by EBIC

• Tetsuji Kato

• Son Phu Thanh Pham

• Yoshiaki Nakamura

書誌事項

タイトル別名

• シリコン材料・デバイス
• シリコン ザイリョウ デバイス

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 111 (114), 93-96, 2011-07-04

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• EBIC
• SrTiO3
• tilt boundary
• forming process

詳細情報

• CRID: 1520009407614882816
• NII論文ID: 110008800862
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 11200281
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I11200281
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles