C-2-60 円筒空洞共振器の試料挿入孔の複素誘電率測定への影響(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)

• 川端 広一

  群馬県立東毛産業技術センター

• 小林 禧夫

  サムテック(有)

書誌事項

タイトル別名

• C-2-60 Effect of sample insertion holes of a cylindrical cavity for the complex permittivity measurements of a dielectric rod sample

収録刊行物

• 電子情報通信学会総合大会講演論文集

  電子情報通信学会総合大会講演論文集 2012 (1), 101-, 2012-03-06

  一般社団法人電子情報通信学会

詳細情報

• CRID: 1570009752987402496
• NII論文ID: 110009459939
• NII書誌ID: AN10471452
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles