リーディングスパシテストの再生成績に影響を与える処理要因 : 日本人英語学習者を対象にした実証研究  [in Japanese] The effect of cognitive load through processing factors on the recall performance in reading span tests of Japanese EFL learners  [in Japanese]

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Abstract

本研究では、ワーキングメモリの保持機能に影響を及ぼす処理要因を調べるため、44名の日本人英語学習者を対象に、さまざまな処理側面(統語・意味・語用)に焦点を当てた4種類のリーディングスパンテスト、英語習熟度テスト(文法・読解)を実施し、課題間の成績を比較した。その結果、統語処理に認知負荷を課したリーディングスパンテスト成績が最も低く、英語習熟度との相関が高いことが明らかになった。このことから、日本人英語学習者は、統語処理が自動化しておらず、その処理に限りあるワーキングメモリ容量の大半を消費してしまうため、保持機能に容量を回せないこと、英語習熟度は統語処理の自動性の度合いに左右されることが示唆された。

This study attempts to explore the effects of cognitive processing load (i.e., semantic, syntactic, and pragmatic) on storing functions and its relationship with L2 proficiency. Forty-four Japanese EFL learners completed four types of Reading Span Tests (RST) under different cognitive load manipulations on processing (i.e., semantic, syntactic, and pragmatic) and two English proficiency tests. The main results were that scores on the RST, which places a cognitive load on syntactic processing in particular, was significantly poorer than those of other types of RSTs and correlated significantly with English proficiency scores. The results suggest that English proficiency largely depends on the degree of automatization of syntactic processing.

Journal

  • Technical report of IEICE. Thought and language

    Technical report of IEICE. Thought and language 111(320), 49-54, 2011-11-19

    The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

References:  10

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    110009465867
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN10449078
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    ART
  • ISSN
    0913-5685
  • NDL Article ID
    023369253
  • NDL Call No.
    Z16-940
  • Data Source
    CJP  NDL  NII-ELS 
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