Current Density Analysis in Contact Area by Using Light Emission Diode Wafer

• Shigeru SAWADA

• Shigeki TSUKIJI

• Terutaka TAMAI

書誌事項

タイトル別名

• Electromechanical Devices

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 111 (299), 115-119, 2011-11

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• Constriction Resistance
• Electrical Contact
• Contact Resistance
• Current Constriction
• Light Emitting Diode
• Current Density Distribution
• Direct observation

詳細情報

• CRID: 1520572358528453760
• NII論文ID: 110009466203
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 023346697
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023346697
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles