DNA電界効果トランジスタの電荷保持特性

• 髙城 祥吾

• 松尾 直人

• 山名 一成

書誌事項

タイトル別名

• DNA デンカイ コウカ トランジスタ ノ デンカ ホジ トクセイ
• Charge Retentivity of DNAFET
• シリコン材料・デバイス
• シリコン ザイリョウ ・ デバイス

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 111 (357), 83-85, 2011-12-16

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• DNA
• FET
• Si
• トラップ
• デトラップ
• Trap
• Detrap

詳細情報

• CRID: 1520853834389100672
• NII論文ID: 10031112492
• NII論文ID: 110009466988
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 023371725
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023371725
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles