冗長化FF置き換え方式による高信頼性VLSI設計の自動化 Design automation of highly reliable VLSI by redundancy FF replacement method

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抄録

ディープサブミクロン領域での素子特性のばらつきや、経年劣化、ソフトエラーによるタイミングエラー対策としてカナリアFFを用いた高信頼性VLSI設計手法の提案を行った。カナリアFFで置き換えるフリップ・フロップの位置の限定手法と配置配線後のチップ面積および消費電力に与える影響について評価を行った。

Design automation of highly reliable VLSI using canary FF is proposed. Canary FF is used to detect timing error caused from parameter variations in deep sub-micron domain, aging deterioration and soft errors. Chip area and power overhead by canary FF is investigated by selectively replacing DFF to canary FF using proposed algorithm.

収録刊行物

  • 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術

    電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 111(450), 79-84, 2012-02-28

    一般社団法人電子情報通信学会

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    110009545701
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10013323
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    0913-5685
  • NDL 記事登録ID
    023575375
  • NDL 請求記号
    Z16-940
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  NII-ELS 
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