バイオナノプロセスを用いたフィラメント制御および抵抗変化メモリにおける効果 : 薄膜中の局所欠陥制御

• 上沼 睦典

• 番 貴彦

• 鄭 彬

書誌事項

タイトル別名

• バイオナノプロセス オ モチイタ フィラメント セイギョ オヨビ テイコウ ヘンカ メモリ ニ オケル コウカ : ハクマク チュウ ノ キョクショ ケッカン セイギョ
• Effects of Guided Filament Formation in NiO-ReRAM Utilizing Bio Nano Process : Control of defects in thin films
• 有機エレクトロニクス
• ユウキ エレクトロニクス

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112 (19), 15-20, 2012-04

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• 抵抗変化メモリ
• 金ナノ粒子
• バイオプロセス
• 欠陥
• ReRAM
• Gold Nanoparticle
• Bio Nano Process
• Defect

詳細情報

• CRID: 1520853833540352256
• NII論文ID: 110009564185
• NII論文ID: 110009564362
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 023620167
• NDL書誌ID: 023619834
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023620167
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023619834
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles