高信頼組込み自己テストのための耐故障テスト生成器に関する考察

• 深澤 祐樹

• 岩垣 剛

• 市原 英行

書誌事項

タイトル別名

• コウシンライ クミコミ ジコ テスト ノ タメ ノ タイコショウ テスト セイセイキ ニ カンスル コウサツ
• A Study on Fault Tolerant Test Pattern Generators for Reliable Built-in Self Test
• ディペンダブルコンピューティング
• ディペンダブルコンピューティング

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112 (102), 15-20, 2012-06-22

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• 組込み自己テスト
• 耐故障
• テスト生成器
• 高信頼テスト
• 巡回符号
• 信頼性モデル
• Built-in self-test
• fault tolerance
• test pattern generators
• reliable test
• cyclic code
• reliability model

詳細情報

• CRID: 1520009408853035008
• NII論文ID: 110009588425
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 023814854
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023814854
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles