歯科パノラマX線写真における左右差分像技術を用いた上顎洞の異常自動検出法  [in Japanese] Automated Detection of Paranasal Sinus Diseases on Dental Panoramic X-Ray Image by Using Contralateral Subtraction Technique  [in Japanese]

Access this Article

Author(s)

    • 原 武史 HARA Takeshi
    • 岐阜大学大学院医学系研究科知能イメージ情報分野 Department of Intelligent Image Information, Gifu University Graduate School of Medicine
    • 田上 元基 TAGAMI Motoki
    • 岐阜大学大学院医学系研究科知能イメージ情報分野 Department of Intelligent Image Information, Gifu University Graduate School of Medicine
    • 金田 隆 KANEDA Takashi
    • 日本大学松戸歯学部放射線科 Department of Radiology, Nihon University School of Dentistry at Matsudo
    • 勝又 明敏 KATSUMATA Akitoshi
    • 朝日大学歯学部口腔病態医療学講座歯科放射線分野 Department of Oral and Maxillofacial Radiology, Asahi University School of Dentistry
    • 周 向栄 ZHOU Xiangrong
    • 岐阜大学大学院医学系研究科知能イメージ情報分野 Department of Intelligent Image Information, Gifu University Graduate School of Medicine
    • 村松 千左子 MURAMATSU Chisako
    • 岐阜大学大学院医学系研究科知能イメージ情報分野 Department of Intelligent Image Information, Gifu University Graduate School of Medicine
    • 藤田 広志 FUJITA Hiroshi
    • 岐阜大学大学院医学系研究科知能イメージ情報分野 Department of Intelligent Image Information, Gifu University Graduate School of Medicine

Abstract

歯科パノラマX線写真は,歯科治療において最も撮影される機会が多い.この写真には,歯牙領域のみならず,上顎洞や頸部も同時に撮影されるため,歯牙領域以外の疾患が同時に撮像される可能性がある.本研究は,歯牙治療のために撮影された写真の中から上顎洞にある異常を自動で検出する手法を開発し,その有用性を観察者実験によって示す.13名の読影者について,コンピュータの結果を利用しない場合とした場合の観察者実験を行った結果,ROC曲線下の面積の平均は0.69から0.73へ上昇し,両者の間には統計的有意差を認めた(p=0.042).

Journal

  • The IEICE transactions on information and systems (Japanese edetion)

    The IEICE transactions on information and systems (Japanese edetion) 96(4), 885-891, 2013-04-01

    The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

References:  11

Cited by:  1

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    110009596336
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AA12099634
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    Journal Article
  • ISSN
    18804535
  • NDL Article ID
    024627062
  • NDL Call No.
    Z16-779
  • Data Source
    CJP  CJPref  NDL  NII-ELS  IR 
Page Top