State Dependent Scan Flip Flopを用いたRSA暗号回路へのセキュアスキャンアーキテクチャの実装

• 跡部 悠太

• 史 又華

• 柳澤 政生

書誌事項

タイトル別名

• State Dependent Scan Flip Flop オ モチイタ RSA アンゴウ カイロ エ ノ セキュアスキャンアーキテクチャ ノ ジッソウ
• Secure Scan Architecture on RSA Circuit Using State Dependent Scan Flip Flop against Scan-Based Side Channel Attack
• 回路とシステム
• カイロ ト システム

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112 (113), 115-120, 2012-07

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• スキャンチェイン
• スキャンベース攻撃
• セキュアスキャンアーキテクチャ
• RSA暗号
• scan chain
• scan-based attack
• secure scan architecture
• RSA

詳細情報

• CRID: 1520009408246758016
• NII論文ID: 110009625875
• NII論文ID: 110009625907
• NII論文ID: 110009626083
• NII論文ID: 110009625989
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 023872197
• NDL書誌ID: 023874714
• NDL書誌ID: 023874252
• NDL書誌ID: 023872613
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023872197
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023874714
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023874252
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023872613
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles