SRAMセル安定性の一括ポストファブリケーション自己修復技術

• Anil Kumar

• 更屋 拓哉

• 宮野 信治

書誌事項

タイトル別名

• SRAM セル アンテイセイ ノ イッカツ ポストファブリケーション ジコ シュウフク ギジュツ
• Self-Improvement of Cell Stability in SRAM by Post Fabrication Technique
• 集積回路
• シュウセキ カイロ

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112 (170), 13-16, 2012-08

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• Threshold Voltage
• CMOS
• SRAM

詳細情報

• CRID: 1520290882619514240
• NII論文ID: 110009627018
• NII論文ID: 110009627076
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 023935856
• NDL書誌ID: 023935272
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023935856
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023935272
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles