A study on test image production using frequency domain correlation with convex function for radiographic inspection equipments (スマートインフォメディアシステム) A study on test image production using frequency domain correlation with convex function for radiographic inspection equipments

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Author(s)

    • 加藤 洋一 KATO Yoichi
    • 愛知県立大学:名古屋電機工業株式会社 Graduate School of Information Science and Technology, Aichi Prefectural University:Engineering &Development, Nagoya Electric Works Co., LTD.

Abstract

X線検査装置は現在,基板実装部品のハンダ接合面検査で多く使用されている.特に2次元透過型X線検査装置は,LSIのBGA化により外観検査不可のハンダ接合面を非破壊で検査を可能にした.しかし,SNRを上げるために加算枚数を増やすことや,実装基板上に多数LSIが並ぶことにより,検査時間は増加の一途をたどった.そこで,実装基板について目標画像を予め作成しておき,検査対象画像と目標画像の空間周波数における相関をとることで,加算枚数を減らす画像処理手法を考察した.

X-ray inspection is frequently used to inspect the solder bonds of surface-mounted components. This is especially true for LSIs since visual examination is made impossible because the package covers the BGA. The inherent instability of x-ray inspection and the low SNR of the resulting images are commonly offset by averaging a number of images; unfortunately, this increases the time taken. Our solution is to use fewer inspection images but achieve acceptable image quality by correlating them to a reference image by an image processing technique in the frequency domain.

Journal

  • 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報

    電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報 112(465), 1-4, 2013-03-07

    The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    110009712246
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AA1196239X
  • Text Lang
    ENG
  • ISSN
    0913-5685
  • NDL Article ID
    024408932
  • NDL Call No.
    Z16-940
  • Data Source
    NDL  NII-ELS 
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