9aSK-3 Siアモルファス粒界の安定性解析:MD/TBMDシミュレーション(格子欠陥・ナノ構造,領域10)

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書誌事項

タイトル別名
  • Stability of amorphous grain boundary of Si:MD/TBMD simulations

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001206045656192
  • NII論文ID
    110009720063
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.57.2.4.0_832_3
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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