A-3-6 故障差分解析に耐性を持つデータ修復可能なAES暗号回路(A-3.VLSI設計技術,一般セッション) Data Recoverable AES Circuit Against Differential Fault Analysis

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収録刊行物

  • 電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集

    電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集 2013年_基礎・境界, 49, 2013-09-03

    一般社団法人電子情報通信学会

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    110009737169
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10489017
  • 本文言語コード
    JPN
  • データ提供元
    NII-ELS 
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