26aBC-3 MeV領域のCu^<4+>とC_<60>+イオンの透過によるSiN薄膜上のアミノ酸の前方2次イオン放出(放射線物理(放射線計測・二次電子放出・クラスター・放射線損傷),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))  [in Japanese] Forward Emission of Secondary Ion from Phenylalanine films on SiN Membranes Penetrated by MeV Cu^<4+> and C_<60>+ from the Backside  [in Japanese]

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  • Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan

    Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan 68.2.2(0), 141, 2013

    The Physical Society of Japan

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