25pDB-6 X線自由電子レーザーによるPr_<0.5>Ca0.5MnO_3薄膜の時間分解X線回折(光誘起相転移(酸化物・強相関),領域5(光物性))

DOI

書誌事項

タイトル別名
  • Time-resolved x-ray diffraction study of Pr_<0.5>Ca0.5MnO_3 thin films by XFEL

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205991292032
  • NII論文ID
    110009755667
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.68.2.4.0_649_2
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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