27aJB-7 阻止電位型光電子回折測定装置によるMoS_2の立体原子配列測定(表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))

• 松下 智裕

  高輝度光科学研究セ

• 室 隆桂之

  高輝度光科学研究セ

• 泉 雄大

  高輝度光科学研究セ

• 加藤 有香子

  高輝度光科学研究セ

• 藤原 秀紀

  阪大基礎工

• 木下 豊彦

  高輝度光科学研究セ

書誌事項

タイトル別名

• Photoelectron diffraction measurement of MoS_2 using a retarding field analyzer.

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 68.2.4 (0), 806-, 2013

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390001205992072704
• NII論文ID: 110009756254
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.68.2.4.0_806_2
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles