25pYF-8 InGaAs/InP多重量子井戸構造における界面揺らぎの断面STM観察(25pYF 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長分野))

• 山川 市朗

  名大院工

• 塩沢 学

  名大院工

• 山内 武志

  CREST-JST

• 涌井 義一

  名大院工

• 大賀 涼

  名大院工

• 藤原 康文

  名大院工

• 竹田 美和

  名大院工

• 中村 新男

  CREST-JST:名大理工総研

書誌事項

タイトル別名

• 25pYF-8 Interfacial roughness of InGaAs/InP multi quantum well structures studiedby cross-sectional scannning tunneling microscopy

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 57.1.4 (0), 835-, 2002

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390001206045279104
• NII論文ID: 110009774441
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.57.1.4.0_835_4
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles