漏えい情報を用いた注入タイミングを制御可能な暗号モジュール外部からの故障注入メカニズムに関する検討

• 小林 瑞樹

• 林 優一

• 本間 尚文

書誌事項

タイトル別名

• ロウエイ ジョウホウ オ モチイタ チュウニュウ タイミング オ セイギョ カノウ ナ アンゴウ モジュール ガイブ カラ ノ コショウ チュウニュウ メカニズム ニ カンスル ケントウ
• Fundamental Study on a Mechanism of Non-invasive Fault-injection at Arbitrary Timing of Cryptographic Processing
• 環境電磁工学
• カンキョウ デンジ コウガク

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 113 (259), 175-179, 2013-10

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• 意図的な電磁妨害
• コモンモード電流
• 故障利用解析
• サイドチャネル解析
• Intentional Electromagnetic Interference
• Common-mode Current
• Fault Analysis
• Side-channel Analysis

詳細情報

• CRID: 1520009408541837184
• NII論文ID: 110009783180
• NII論文ID: 110009818929
• NII論文ID: 110009821108
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 025002910
• NDL書誌ID: 025003591
• NDL書誌ID: 025004012
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025002910
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025003591
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025004012
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles